Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

٢٨٫٩٥٠ د.ب.‏
+ ٩٫٤٩٠ د.ب.‏ الشحن

Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

البائع:
  • product image

٢٨٫٩٥٠ د.ب.‏

في المخزون
+ ٩٫٤٩٠ د.ب.‏ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

  • العلامة التجارية: Unbranded
تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

This Book Describes Efficient Techniques For Production Testing As Well As For Periodic Maintenance Testing (specifically In Terms Of Multi-cell Faults) In Modern Semiconductor Memory. The Author Discusses Background Selection And Address Reordering Algorithms In Multi-run Transparent March Testing Processes. Formal Methods For Multi-run Test Generation And Many Solutions To Increase Their Efficiency Are Described In Detail.
  • العلامة التجارية: Unbranded
  • الفئة: العلوم والطب والطبيعة
  • حَجْم: Paperback
  • اللغة: English
  • المؤلف: Ireneusz Mrozek
  • عدد الصفحات: 148
  • تاريخ النشر: 2019-02-01
  • الناشر/ العنوان: Springer Nature B.V
  • هوية Fruugo: 469761503-983716427
  • ISBN: 9783030081980
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ٩٫٤٩٠ د.ب.‏ - التسليم بين الثلاثاء 10 نوفمبر 2026 – الاثنين 16 نوفمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة