Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

٤٧٫٩٥٠ د.ب.‏
+ ١٢٫٤٩٠ د.ب.‏ الشحن

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

البائع:
  • product image

٤٧٫٩٥٠ د.ب.‏

في المخزون
+ ١٢٫٤٩٠ د.ب.‏ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis Third Edition

This Text Provides Students As Well As Practitioners With A Comprehensive Introduction To The Field Of Scanning Electron Microscopy (sem) And X-ray Microanalysis. The Authors Emphasize The Practical Aspects Of The Techniques Described. Topics Discussed Include User-controlled Functions Of Scanning Electron Microscopes And X-ray Spectrometers And The Use Of X-rays For Qualitative And Quantitative Analysis.
  • العلامة التجارية: Springer Nature B.V
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Paperback
  • اللغة: English
  • المؤلف: Joseph Goldstein
  • عدد الصفحات: 720
  • تاريخ النشر: 2013-05-31
  • الناشر/ العنوان: Springer Nature B.V
  • هوية Fruugo: 557060563-1125329059
  • ISBN: 9781461349693
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١٢٫٤٩٠ د.ب.‏ - التسليم بين الثلاثاء 10 نوفمبر 2026 – الثلاثاء 08 ديسمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة