Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

١٠٩٫٠٠٠ د.ب.‏
+ ٩٫٩٩٠ د.ب.‏ الشحن

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

  • product image

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

السعر: ١٠٩٫٠٠٠ د.ب.‏
البائع:
١٠٩٫٠٠٠ د.ب.‏
+ ٩٫٩٩٠ د.ب.‏ الشحن

في المخزون

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

الوصف

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
  • العلامة التجارية: John Wiley & Sons Inc
  • الفئة: العلوم والطب والطبيعة
  • حَجْم: Hardback
  • اللغة: English
  • المؤلف: Wai Kin Chim (National University of Singapore)
  • عدد الصفحات: 288
  • تاريخ النشر: 2023-05-02
  • الناشر/ العنوان: John Wiley & Sons Inc
  • هوية Fruugo: 434363592-911570923
  • ISBN: 9780471492405

التسليم والرد

يُرسل خلال ٦ أيام

  • STANDARD: ٩٫٩٩٠ د.ب.‏ - التسليم بين الاثنين 19 يناير 2026 – الجمعة 06 فبراير 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل. عرض سياسة الرد الكاملة